キヤノンMJが「JIMA 2026」に出展。半導体と電池の最先端技術を紹介

キヤノンMJが出展する「JIMA 2026」の魅力

2026年9月16日から18日まで、東京ビッグサイトにて開催される第13回総合検査機器展「JIMA 2026」。この展示会において、キヤノンマーケティングジャパン株式会社（以下、キヤノンMJ）が最先端の検査機器と技術を紹介します。近年、検査・計測分野では効率化やデジタル化が求められており、キヤノンMJはそのニーズに応え、高度な研究開発を支援するために、最新のX線分析装置を展示します。

JIMA 2026の概要

「JIMA 2026」は、非破壊検査や外観検査、品質管理といった検査機器の専門展示会です。キヤノンMJのブースでは、国内独占販売契約を締結しているSigray（シグレイ）社の各種X線分析装置が紹介されます。最近ラインアップに加わった製品や最新の測定事例など、業界の動向に基づいた情報が提供される予定です。

注目のX線分析装置

キヤノンMJでは、以下の製品を中心に展示を行います。

1. ハイブリッド型ナノ3DX線顕微鏡「ApexHybrid-210TM」

この顕微鏡は、販売開始直後の新製品です。2つの入射モードを取り入れており、斜入射モードでは大型半導体基板や車載電池の観察に特化しています。また、直交入射モードでは業界最高水準の空間分解能0.40μm以下を実現しており、半導体基板や電池材料において高精度かつ高速な測定を可能にします。

2. ナノX線顕微鏡「EclipseXRM-910TM」

ナノフォーカスX線源と高感度検出器を搭載したこの顕微鏡は、微細構造解析や材料評価に最適です。空間分解能は300nmで、内部構造を非破壊で可視化する技術を提供します。

3. 蛍光X線分析装置「AttoMapTM」

特許技術を使用した高輝度X線源を搭載したこの装置は、微量元素の分布を高感度で可視化します。半導体や材料科学、ライフサイエンスなど、幅広い分野でシンクロトロン並みの元素マッピング分析が可能です。

4. X線吸収分光装置「QuantumLeap」

高輝度マルチターゲットX線源を備え、放射光施設で培った技術を利用して材料の化学状態を精密に解析します。約100µmの空間分解能とサブeVのエネルギー分解能を持ち、高速解析を実現します。

セミナー情報

キヤノンMJ産業機器事業部の担当者が「半導体・電池向けSigray最先端X線解析ソリューション提案」と題したセミナーを開催します。日時は9月16日（水）13時30分から15時15分、会場は東京ビッグサイト東1ホールセミナー会場J1です。半導体の微細欠陥や電池内部構造を可視化するX線CT装置についても詳しく解説します。