コンテックが新たな計測器モジュール「ZM-C2H-PE」を発表!
株式会社コンテックは、積層セラミックコンデンサ(MLCC)の量産品検査に特化した新しい計測器モジュール「ZM-C2H-PE」を発表しました。販売は2024年12月17日から開始します。これにより、電子部品検査の効率化とコスト削減が期待されます。
新製品の特長
「ZM-C2H-PE」は、PCI Expressに対応したCメータボードで、2つのチャネルで静電容量(C)や損失係数(D)の計測が可能です。これにより、1台のWindowsパソコンで2台のベンチトップ計測器の機能を統合することができます。さらに、従来のベンチトップ型測定器を必要とせず、小型化した検査システムを構築できるため、空間の無駄を省くことができます。
近年、スマートフォンや電動自動車の普及に伴い、MLCCの需要が急速に増加しています。これに応える形で、「ZM-C2H-PE」は400pFから最大1400μFの範囲で静電容量を測定可能です。これらの特性により、大容量化が進むコンデンサの検査ニーズに対応しています。
高速測定で検査時間を短縮
また、静電容量Cと損失係数Dはそれぞれ、1kHzで2msec、120Hzで10msecという短時間で測定することができます。これにより、タクトタイムの短縮にも大きく寄与します。さらに、印加電圧を自動で調整する機能もあり、常に一定の測定条件を保つことができます。これにより、ケーブルによる電圧降下の影響を最小限に抑えることが可能です。
様々な測定機能を搭載
新製品は、以下のような高機能をコンパクトにまとめています。
- - 4端子測定ポートを2チャネル搭載: 各チャネルが独立したレンジ設定可能。
- - トリガ同期信号出力機能: 測定時の発熱を抑制し、信号の摩耗を低減。
- - コンタクトチェック機能: 4端子測定の確認を行い、信頼性を高めます。
- - 補正機能の搭載: 誤差を除去するためのオープン、ショート補正機能。
さらに、Windowsに対応したデバイスドライバも用意されており、アプリケーションの開発が簡単に行えます。これにより、業務の効率化と生産性向上につながることでしょう。
結び
「ZM-C2H-PE」の登場により、積層セラミックコンデンサの検査システムは、より小型化され、高速で高精度なデータ処理が可能になります。日本国内での電子部品検査の進化を感じさせる新たな一歩として、今後の展開に期待が寄せられます。詳細については、コンテックの公式サイトをチェックしてください。